|
4 } }0 J+ r, |
華為網(wǎng)盤附件:* z/ [7 \* F( j8 N
【華為網(wǎng)盤】 DDR信號完整性分析測試
) _+ h1 j& y. p z& F(4.56M)
5 x; I; }8 @, K7 r1 U6 \' l; T" j$ |在此共享DDR信號完整性分析測試方法,大家多討論。8 {" _5 O, v6 j9 e7 O% V5 c
第一:我們一般看信號質(zhì)量好不好,也就是眼圖漂不漂亮。(影響因素主要有:阻抗匹配問題、串?dāng)_問題、回流路徑還有IBIS模型本身的寄生參數(shù)等等……請大家補充)+ i1 G0 s* K0 G' ]' O4 k
第二:我們一般還看信號的時序好不好,考慮并行總線要考慮時序的建立時間和保持時間和相對應(yīng)的裕量。(影響因素主要有:PCB板走線是否等長、封裝基板走線是否等長、IBIS寄生參數(shù)還有各種特定、隨機抖動等等……請大家補充)
( f! h2 o) E/ ]…………# y# w" c6 k+ r& d5 s- n) i
……………… |
-
|