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【華為網(wǎng)盤】 DDR信號(hào)完整性分析測(cè)試
6 g! M# ?' ~' Q. y5 Z(4.56M)
: O/ a4 D7 |, Z! y4 o在此共享DDR信號(hào)完整性分析測(cè)試方法，大家多討論。
: {# q+ V4 W# Q( Y第一：我們一般看信號(hào)質(zhì)量好不好，也就是眼圖漂不漂亮。（影響因素主要有：阻抗匹配問題、串?dāng)_問題、回流路徑還有IBIS模型本身的寄生參數(shù)等等……請(qǐng)大家補(bǔ)充）9 u4 z3 R8 h3 N/ E
第二：我們一般還看信號(hào)的時(shí)序好不好，考慮并行總線要考慮時(shí)序的建立時(shí)間和保持時(shí)間和相對(duì)應(yīng)的裕量。（影響因素主要有：PCB板走線是否等長(zhǎng)、封裝基板走線是否等長(zhǎng)、IBIS寄生參數(shù)還有各種特定、隨機(jī)抖動(dòng)等等……請(qǐng)大家補(bǔ)充）3 C% s+ d8 Q- }2 {) O! o
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