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# f$ w" f4 r% K! E, r華為網(wǎng)盤附件： E" h5 a+ e# n" {/ a" m
【華為網(wǎng)盤】 DDR信號(hào)完整性分析測試3 o; ~6 G4 y" R, `5 a
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5 t3 b. e/ Z3 I9 H5 U在此共享DDR信號(hào)完整性分析測試方法，大家多討論。( H3 O. q; \+ }+ h# h5 q
第一：我們一般看信號(hào)質(zhì)量好不好，也就是眼圖漂不漂亮。（影響因素主要有：阻抗匹配問題、串?dāng)_問題、回流路徑還有IBIS模型本身的寄生參數(shù)等等……請大家補(bǔ)充）
( H5 ^( I" a/ j5 h5 t0 D; C( s G第二：我們一般還看信號(hào)的時(shí)序好不好，考慮并行總線要考慮時(shí)序的建立時(shí)間和保持時(shí)間和相對應(yīng)的裕量。（影響因素主要有：PCB板走線是否等長、封裝基板走線是否等長、IBIS寄生參數(shù)還有各種特定、隨機(jī)抖動(dòng)等等……請大家補(bǔ)充）
) I7 v k1 C5 `: V- I: q2 Z/ P5 q…………
! C6 ]0 J" x% Q# w4 n" ]……………… |
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