|
|
- _5 x# m# }+ X! ?& b* ~: w
華為網(wǎng)盤(pán)附件：
2 n, W- W* K8 D- B/ q7 w+ m5 T! x【華為網(wǎng)盤(pán)】 DDR信號(hào)完整性分析測(cè)試! w& @4 F2 {% O1 A8 x ?* w
(4.56M)- U& c. O5 E4 ~" O8 t d6 h8 p. I
在此共享DDR信號(hào)完整性分析測(cè)試方法，大家多討論。0 y6 R! w& i [* ~3 y# y
第一：我們一般看信號(hào)質(zhì)量好不好，也就是眼圖漂不漂亮。（影響因素主要有：阻抗匹配問(wèn)題、串?dāng)_問(wèn)題、回流路徑還有IBIS模型本身的寄生參數(shù)等等……請(qǐng)大家補(bǔ)充）4 [) {3 ` h9 w+ t2 s9 h8 B. J
第二：我們一般還看信號(hào)的時(shí)序好不好，考慮并行總線要考慮時(shí)序的建立時(shí)間和保持時(shí)間和相對(duì)應(yīng)的裕量。（影響因素主要有：PCB板走線是否等長(zhǎng)、封裝基板走線是否等長(zhǎng)、IBIS寄生參數(shù)還有各種特定、隨機(jī)抖動(dòng)等等……請(qǐng)大家補(bǔ)充）" D6 e3 H6 Z: t' Z( ?! d, K
…………
. U+ w; o- ]5 n) G8 J5 V……………… |
-
|
電子產(chǎn)業(yè)一站式賦能平臺(tái)
窺視卡
置頂卡
變色卡
