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【華為網(wǎng)盤】 DDR信號完整性分析測試
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! N: r# S7 z0 X$ x7 ?; @在此共享DDR信號完整性分析測試方法,大家多討論。( ~1 P. W+ N3 Q# }3 T- Z, [" x. J
第一:我們一般看信號質(zhì)量好不好,也就是眼圖漂不漂亮。(影響因素主要有:阻抗匹配問題、串?dāng)_問題、回流路徑還有IBIS模型本身的寄生參數(shù)等等……請大家補(bǔ)充)
6 C/ N! l0 u( r7 J* m: c第二:我們一般還看信號的時序好不好,考慮并行總線要考慮時序的建立時間和保持時間和相對應(yīng)的裕量。(影響因素主要有:PCB板走線是否等長、封裝基板走線是否等長、IBIS寄生參數(shù)還有各種特定、隨機(jī)抖動等等……請大家補(bǔ)充), @# q5 ?2 k' S
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