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Si3P框架簡介. W$ |- Y( K1 W9 [4 n: b4 F5 _5 E& i
系統(tǒng)級封裝(SiP)代表電子封裝技術(shù)的重大進步,將多個有源和無源元件組合在單個封裝中。本文通過Si3P框架探討SiP的基本概念和發(fā)展,包括集成、互連和智能三個方面[1]。" L; M) A: S& s; b/ I+ k
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SiP概念可以通過Si3P更好地理解,將"i"擴展為三個關(guān)鍵要素:集成、互連和智能。
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圖1展示了SiP向Si3P的擴展,說明一個"i"如何轉(zhuǎn)變?yōu)榇砑伞⒒ミB和智能的三個"i"。
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SiP的集成層次8 E% }: i1 ]# d* b3 n0 \7 J
SiP集成發(fā)生在三個不同層次:芯片級、印制電路板級和封裝級。每個層次都具有獨特的挑戰(zhàn)和系統(tǒng)開發(fā)機會。0 H% x# c" ^$ c) H3 `+ q, x8 m
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) z# V- |( |+ i圖2展示了電子系統(tǒng)集成的三個層次,顯示了從芯片到封裝再到印制電路板的層次結(jié)構(gòu)。
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互連架構(gòu)
. h" j+ S* C3 W( M1 o6 NSiP的互連包括三個主要領(lǐng)域:電磁(EM)、熱力和力學。對于電磁互連,信號完整性和傳輸路徑優(yōu)化尤為重要。
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4 i/ F! f$ G' I5 P5 u圖3顯示了從芯片到封裝的信號傳輸路徑,說明了各種互連元素。
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熱管理方案, n( Y0 T7 A! f F6 w
SiP的熱管理需要仔細考慮熱傳遞路徑。熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線有助于分析散熱特性。
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6 t# i4 ?# E: O8 @圖4顯示了熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線,展示了不同材料的熱阻和熱容量變化。/ E5 l5 b- w5 X5 u5 x2 [
7 g, `3 D2 J8 f1 M4 |1 k- r對于高功率應用,可能需要特殊的散熱通道來有效管理熱量。5 v u! p O2 r' V; B
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圖5說明了SiP設(shè)計中通過特殊散熱通道進行散熱的方式。 F: l) S- K2 V( F+ f$ N" O8 U2 y
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機械設(shè)計考慮! n. `) N- n% g/ H) |% o
力學互連處理影響封裝的外部和內(nèi)部力。QFN和QFP等不同封裝類型具有不同的力學處理能力。) L, d4 O9 ^, x% g
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圖6比較了QFN和QFP封裝類型,展示其不同的結(jié)構(gòu)特征。' W# P1 _ D, A2 S& D! w
: Q; y, z) L8 o8 ~0 R智能化與測試策略
, U/ Q- J- {6 N+ @6 O' I* cSiP的智能化包括系統(tǒng)功能、測試和軟件集成。; C3 Z8 T. @ t# Y: b# _
測試包括機器級和板級驗證。7 f! C3 U- I2 b* O: y& C
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|3 }* m5 g" `9 l8 H. _2 y4 I圖7解釋了SiP器件的機器測試原理。: k0 s% Z3 f, i6 U8 Q
; ^4 Z% m6 s& c2 P: w9 Y0 A1 \歷史演進$ A) {3 T$ p, \0 U) H3 A
電子集成的歷史發(fā)展顯示了SiP如何成為關(guān)鍵技術(shù)。
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圖8展示了印制電路板、封裝和集成電路技術(shù)的集成歷史,顯示其并行發(fā)展。
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0 x' K' L* B5 L1 W3 u概念框架與未來展望
( Q( i1 N0 C& g' a$ oSi3P概念可以通過類比來理解:集成類似于建造房屋,互連類似于修建道路,智能類似于人類居住者。8 o4 O- o! @! Y% Y! L7 s! o0 M
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圖9總結(jié)了Si3P概念,顯示物理結(jié)構(gòu)、能量傳遞和功能應用之間的關(guān)系。
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隨著技術(shù)發(fā)展,SiP技術(shù)繼續(xù)發(fā)展新的集成方法和互連策略。在后摩爾定律時代,傳統(tǒng)縮放面臨物理限制時,這項技術(shù)顯示出特殊優(yōu)勢。
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3 M1 `# l4 q. u0 y" G7 p圖10提供了Si3P的概念理解,說明其三個主要組成部分。
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應用與實施
- E @, ~$ }' w; n2 K @這項技術(shù)在消費電子到航空航天等多個領(lǐng)域得到應用。現(xiàn)代智能手機就集成了多個協(xié)同工作的SiP系統(tǒng)。每個SiP可以處理特定功能,如感測、處理或通信,同時保持與其他系統(tǒng)組件的兼容性。
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SiP設(shè)計需要仔細考慮應用場景。例如,用于空間探索的SiP必須考慮輻射效應和自主運行能力,而用于智能手機的SiP則必須優(yōu)先考慮功率效率和緊湊形態(tài)。7 U0 ]/ `& k* o& ]6 U" O
5 U' a8 u! V N測試和調(diào)試是SiP開發(fā)中的重要部分,通常占用超過一半的開發(fā)時間。各種測試,包括功能、性能、機械強度、熱沖擊和可靠性測試,確保最終產(chǎn)品的穩(wěn)定性。* A G% c. g, j$ y8 n4 ?8 R. [
; s+ h3 V+ v! D8 h7 }. S2 V0 [軟件在SiP功能中發(fā)揮著越來越重要的作用。硬件和軟件之間存在相互依存的關(guān)系:硬件提供物理平臺,軟件實現(xiàn)功能和智能。這包括基本操作的系統(tǒng)軟件、特定功能的應用軟件和驗證與調(diào)試的測試軟件。
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參考文獻
$ x( U( z1 |- a$ I[1] S. Li, "From SiP to Si3P," in MicroSystem Based on SiP Technology, S. Li, Ed. Beijing: Publishing House of Electronics Industry, 2022, pp. 29-65. x9 d; ?% s/ _( Q6 ^2 H; s/ t
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深圳逍遙科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家專注于半導體芯片設(shè)計自動化(EDA)的高科技軟件公司。我們自主開發(fā)特色工藝芯片設(shè)計和仿真軟件,提供成熟的設(shè)計解決方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分別針對光電芯片、微機電系統(tǒng)、超透鏡的設(shè)計與仿真。我們提供特色工藝的半導體芯片集成電路版圖、IP和PDK工程服務,廣泛服務于光通訊、光計算、光量子通信和微納光子器件領(lǐng)域的頭部客戶。逍遙科技與國內(nèi)外晶圓代工廠及硅光/MEMS中試線合作,推動特色工藝半導體產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展,致力于為客戶提供前沿技術(shù)與服務。+ |( s" Z9 E, D# q, N
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