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Scientific Reports | 深度學(xué)習(xí)在納米光電子結(jié)構(gòu)設(shè)計和優(yōu)化中的應(yīng)用

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引言0 m8 {. h6 _, ?) E* Z* [
納米光電子技術(shù)通過在亞波長尺度上精確控制光與物質(zhì)的相互作用,導(dǎo)致了生物學(xué)、納米技術(shù)和光通信等領(lǐng)域的突破。然而,設(shè)計和優(yōu)化納米光電子結(jié)構(gòu)通常需要復(fù)雜的數(shù)值模擬,這些模擬計算量大。深度學(xué)習(xí)為加速這一過程并實現(xiàn)納米光電子器件更高效的反向設(shè)計提供了有前景的方法。) L: z6 }1 z% O) A4 ]

# q/ r6 m5 c; ?) }本文探討如何應(yīng)用深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來預(yù)測納米光電子結(jié)構(gòu)的光學(xué)特性并解決反向設(shè)計問題。重點關(guān)注基于非線性環(huán)形諧振器的全光學(xué)等離子體開關(guān)(AOPS)的例子[1]。9 e& ~; Q' f" u4 K' s+ d& v9 r, l
! q( M4 Y. Q# O5 |
5 A2 [! b/ Q3 E; _7 D
深度學(xué)習(xí)在納米光電子技術(shù)中的優(yōu)勢- w! C/ L) I& g3 {/ R) f
深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)擅長學(xué)習(xí)輸入和輸出之間的復(fù)雜非線性關(guān)系。對于納米光電子結(jié)構(gòu),我們可以訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)將幾何參數(shù)映射到光譜,或反之亦然。這允許在不運(yùn)行耗時的電磁模擬的情況下快速預(yù)測結(jié)構(gòu)的光學(xué)響應(yīng)。
6 Q! B% d  x& X" J' J1 _7 u* o- K0 U$ R  ]. f
在納米光電子技術(shù)中使用深度學(xué)習(xí)的主要優(yōu)勢包括:
9 ]0 |3 Y& W, A- i1 Q, A1. 速度:一旦訓(xùn)練完成,神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)可以在毫秒內(nèi)預(yù)測光譜或設(shè)計參數(shù),而傳統(tǒng)模擬需要數(shù)小時。! J% K7 T" R5 B2 k& J9 D8 ^  {$ [% E
2. 反向設(shè)計:可以訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)解決確定結(jié)構(gòu)參數(shù)以實現(xiàn)所需光學(xué)響應(yīng)的反向問題。
& P$ _6 |; A5 E3. 泛化:訓(xùn)練良好的網(wǎng)絡(luò)可以在訓(xùn)練樣本之間進(jìn)行插值,以預(yù)測新結(jié)構(gòu)的行為。
' \: C; O, G; `' e) W2 s9 a- n4. 多目標(biāo)優(yōu)化:神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)可用于快速探索大型設(shè)計空間并同時優(yōu)化多個目標(biāo)。
" h* s$ i# F9 u7 k  ?( y$ P9 W0 F9 M# I6 I. |5 G: [: M# l
讓我們看看如何將深度學(xué)習(xí)應(yīng)用于全光學(xué)等離子體開關(guān)的設(shè)計。
: l5 V& `* j# w4 G# B2 V. t# J% h  d& e, D# l
全光學(xué)等離子體開關(guān)設(shè)計
; O( ?; L* F! f$ {% Q( }論文重點研究基于方形非線性等離子體環(huán)形諧振器(NPRR)的AOPS器件。這些器件利用克爾非線性效應(yīng),通過調(diào)制輸入強(qiáng)度在輸出端口之間切換光。
/ E% x* @( M. S: R
2 r; q* f7 _# k- H. K圖1:方形AOPS結(jié)構(gòu)示意圖,顯示了關(guān)鍵幾何參數(shù)。' F2 n# z9 g7 }) {& I4 `, i
! l8 k$ V$ @5 J1 }2 }
關(guān)鍵設(shè)計參數(shù)是波導(dǎo)的寬度(Wbus、Wdrop、Wsquare)和間隙(Gbus、Gdrop)。通過調(diào)整這些參數(shù),我們可以控制器件的共振波長和開關(guān)行為。7 J; n% Z' k) n$ I3 Y1 Q! l1 i" d

2 }5 I! l9 _+ R2 j傳統(tǒng)上,優(yōu)化這些參數(shù)需要運(yùn)行許多電磁模擬來掃描參數(shù)空間。相反,我們可以使用深度學(xué)習(xí)來快速預(yù)測光譜并解決反向設(shè)計問題。
1 z# ~+ C9 P) k. L) \1 A+ t8 s$ p$ i
深度學(xué)習(xí)工作流程
* n. c7 c/ u; w( r, `: L深度學(xué)習(xí)方法涉及以下關(guān)鍵步驟:& O4 c( n  _, G5 R9 i9 g4 `
1. 數(shù)據(jù)生成:使用電磁模擬(如FDTD)生成幾何參數(shù)和相應(yīng)透射光譜的數(shù)據(jù)集。
0 L- Z5 v* l3 ]2 u2. 數(shù)據(jù)預(yù)處理:應(yīng)用如田口方法等技術(shù),有效地采樣參數(shù)空間并減少所需的數(shù)據(jù)集大小。) _1 P0 o5 V2 O( r
3. 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計:創(chuàng)建合適的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu),通常是具有多個隱藏層的全連接網(wǎng)絡(luò)。
* I* u- q( o. R9 h) M4. 訓(xùn)練:在數(shù)據(jù)集上訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò),優(yōu)化權(quán)重以最小化預(yù)測誤差。
+ E* @3 o5 U! q5. 驗證:在保留的數(shù)據(jù)上測試訓(xùn)練好的網(wǎng)絡(luò),以評估泛化性能。
- ]( r8 }6 o! j- ]% `7 ]6. 應(yīng)用:使用網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行快速光譜預(yù)測和反向設(shè)計任務(wù)。4 k: |5 Y  C2 ]6 y2 |* L

& i" b% u' Q" ]( t! B讓我們更詳細(xì)地檢查每個步驟。
9 j0 w7 E0 l; v! ?2 w$ R
& D- \  D$ ?5 q/ k9 J1 x* n數(shù)據(jù)生成和預(yù)處理/ D: b; T, D. Y9 C/ G- H" O7 O
生成訓(xùn)練數(shù)據(jù)通常是最耗時的步驟。作者使用FDTD模擬創(chuàng)建了包含18,432個獨(dú)特參數(shù)組合和光譜的數(shù)據(jù)集。為了降低計算成本,應(yīng)用了田口方法來策略性地采樣參數(shù)空間。
" K# w- M+ z5 F2 F' X" Y  }% W  T0 l. @, f; _* f% J  Z$ I
田口方法允許將數(shù)據(jù)集減少到完整參數(shù)掃描的1/16,而不顯著影響模型性能。這突顯了在將深度學(xué)習(xí)應(yīng)用于納米光電子技術(shù)時,智能數(shù)據(jù)生成策略的重要性。$ ^; Q3 z' V2 a2 O' t+ w- ^6 J& S

! w9 ~% ?% E4 U, y" b神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)
; h& _. n% l# l9 y9 c5 e0 ?+ b$ ]作者使用了具有11個隱藏層的全連接神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)。中心隱藏層包含160個神經(jīng)元,神經(jīng)元數(shù)量向輸入和輸出層遞減。
7 |% r2 v: f* z4 Q' g ; V: e2 o  B( M! ?% `0 s* I* b) Z
圖2:用于光譜預(yù)測的深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)示意圖。
8 i6 Q# ^/ [" i" M3 I7 z! L; j8 D  j# q3 Z
網(wǎng)絡(luò)設(shè)計的關(guān)鍵特征包括:
  ]7 I; s+ |9 l- l! e- w
  • 過完備隱藏層以增強(qiáng)表示能力
  • Leaky ReLU激活函數(shù)以防止梯度消失
  • Adam優(yōu)化器以實現(xiàn)高效訓(xùn)練. o' y9 B9 ~& C$ p
    5 \; u2 w. j& ]( \2 k
    網(wǎng)絡(luò)以幾何參數(shù)和波長作為輸入,并預(yù)測透射光譜作為輸出。  B& S% Z: \) ?$ s* J4 E

    % c2 E$ P. @$ b6 e& b訓(xùn)練和驗證
    ( S/ E3 c# r- e8 l數(shù)據(jù)集被分為70%訓(xùn)練集、15%驗證集和15%測試集。網(wǎng)絡(luò)被訓(xùn)練以最小化預(yù)測光譜和實際光譜之間的均方誤差。0 ?: F' \; e6 s; O7 t$ d' `$ c
    1 w' J: a# o  Y5 P' ^  s& s
    圖3:訓(xùn)練損失曲線,顯示在初始階段誤差顯著下降。
    0 s5 m/ t! ]/ [; H* ^4 Q+ p
    / p' a, w5 {# I( @/ H! V最終模型在驗證集上達(dá)到0.028的損失,在測試集上達(dá)到0.03的損失,表明對未見過的數(shù)據(jù)有良好的泛化能力。
    5 `. v8 d$ R! w' t7 p4 S! k) w) `- o; \) J3 h2 y5 j- F8 j
    為了評估性能,作者比較了對訓(xùn)練中未見過的結(jié)構(gòu)的預(yù)測光譜和實際FDTD模擬結(jié)果。- x( t: h/ Y- @) }. j6 C4 ^
    5 \& X- b% m; E/ H8 ^; C3 W
    圖4:對未見過結(jié)構(gòu)的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測光譜(紅色)與實際FDTD模擬(藍(lán)色)的比較。
    4 H# A5 @: T3 W9 a) N6 Y) {9 }7 |5 ?8 Q- M
    預(yù)測光譜與實際光譜之間的密切匹配展示了網(wǎng)絡(luò)捕捉復(fù)雜光譜特征的能力。
    7 s( E  m8 `+ E8 W- R. w6 m. M
    ; a) @# g4 Z+ h深度學(xué)習(xí)在AOPS設(shè)計中的應(yīng)用
    % S8 V+ d3 s+ c6 E, @通過訓(xùn)練好的網(wǎng)絡(luò),可以快速探索設(shè)計空間并優(yōu)化AOPS器件。
    , E  h' N% m) |7 R) c* o4 W作者展示了兩個關(guān)鍵應(yīng)用:6 @1 i: l  E  V' N1 N
    1. 正向模型:預(yù)測給定幾何參數(shù)的透射光譜。
    : G& i5 j  L/ f+ c$ I2 P2. 反向模型:確定實現(xiàn)所需光譜的幾何參數(shù)。
    9 h+ M/ q4 n, [% \. q
    & e1 |2 g" {) C, }對于正向模型,網(wǎng)絡(luò)可以在幾分鐘內(nèi)生成數(shù)百萬個結(jié)構(gòu)的光譜,實現(xiàn)快速設(shè)計空間探索。這允許識別特定波長或開關(guān)性能的最佳參數(shù)。+ Y) y# [! u( B  i+ \* h, w
    : E1 Y  _5 J, m+ j$ g
    圖5:透射光譜和光場分布,顯示AOPS開關(guān)性能。
    5 `  W( r  v# p! q2 C% E
    1 T# @9 n/ s: n9 a$ }3 ?反向模型允許確定實現(xiàn)目標(biāo)光譜的幾何參數(shù)。這使得可以為特定應(yīng)用或波長設(shè)計器件。, x, a2 y4 i* ?, ?

    ' L4 w3 ?% w9 _) _" f/ L( w5 s圖6:目標(biāo)光譜(藍(lán)色)與反向模型預(yù)測光譜(紅色)的比較。! N4 D, ^. q6 C- B) x9 x
    , ?$ Q' E; E* [
    目標(biāo)光譜和預(yù)測光譜之間的密切匹配突顯了深度學(xué)習(xí)在納米光電子反向設(shè)計中的強(qiáng)大力量。
    6 {; I1 F0 \" y" b' d  V: O# y" \
    $ t1 f$ @8 b2 \+ s結(jié)論
    6 \0 M" ^" P; z6 w7 x深度學(xué)習(xí)為加速設(shè)計和優(yōu)化諸如全光學(xué)等離子體開關(guān)等納米光電子結(jié)構(gòu)提供了強(qiáng)大的方法。通過在模擬數(shù)據(jù)上訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),可以實現(xiàn)光學(xué)特性的快速預(yù)測并解決反向設(shè)計問題。
    . ]% W1 v' n; b" C, o
    * }4 ^6 N8 g" B( q主要優(yōu)勢包括:4 W; J; b6 H2 J( a" m
  • 與電磁模擬相比,光譜預(yù)測速度提高了幾個數(shù)量級
  • 能夠高效解決反向設(shè)計問題
  • 快速探索大型設(shè)計空間以進(jìn)行多目標(biāo)優(yōu)化
    $ L7 I1 s- u$ Y9 z0 f+ y/ v1 v

    , V% `; @5 V( U7 F: n, I2 I參考文獻(xiàn)* x$ t4 p- o* a" B
    [1] E. Adibnia, M. Ghadrdan, and M. A. Mansouri-Birjandi, "Nanophotonic structure inverse design for switching application using deep learning," Scientific Reports, vol. 14, no. 1, p. 21094, Feb. 2024, doi: 10.1038/s41598-024-72125-4.
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    5 U: n4 [3 X0 Z歡迎轉(zhuǎn)載
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    5 M8 }3 T/ Y3 M, t深圳逍遙科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家專注于半導(dǎo)體芯片設(shè)計自動化(EDA)的高科技軟件公司。我們自主開發(fā)特色工藝芯片設(shè)計和仿真軟件,提供成熟的設(shè)計解決方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分別針對光電芯片、微機(jī)電系統(tǒng)、超透鏡的設(shè)計與仿真。我們提供特色工藝的半導(dǎo)體芯片集成電路版圖、IP和PDK工程服務(wù),廣泛服務(wù)于光通訊、光計算、光量子通信和微納光子器件領(lǐng)域的頭部客戶。逍遙科技與國內(nèi)外晶圓代工廠及硅光/MEMS中試線合作,推動特色工藝半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展,致力于為客戶提供前沿技術(shù)與服務(wù)。
    / u3 @1 J0 `" N3 E0 Q. ^2 P) J! a- v/ j: D) A+ R
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