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資源介紹：
" ?" R% }, k/ e+ L& h+ b. y叢 書(shū) 名：國(guó)外電子與通信教材系列
( R8 b2 X6 q( T0 c$ y1 h! y作 者：(美)伯格丁(Bogatin,E.)著，李玉山 等譯
3 @1 X7 o. G- _! K" Q: Q出 版 社：電子工業(yè)出版社
/ e- j c& k4 B8 N& K. P出版時(shí)間：2005-4-10 j! s7 K/ i0 _/ L) t
版 次：1
" i H# N5 X7 c) m& p1 Y( _- q頁(yè) 數(shù)：357- \9 s$ Y# s- O6 X* q
字 數(shù)：602000
! \; L4 X j. u4 J+ J' u8 r7 t0 r印刷時(shí)間：2005-4-1
0 c2 S4 z: A0 L; N開(kāi) 本：
* D) D# E, M; [5 k8 I紙 張：膠版紙) m+ {7 Y+ E8 A! H7 `! Y
印 次：
* v% d% N! T. T# VI S B N：9787121006425+ m1 R+ o' S$ u: d. c7 n, p' g+ j1 o
包 裝：平裝2 t# J5 C" X+ B! D& L6 C O
5 x1 c/ {: C$ `. P+ y本書(shū)全面論述了信號(hào)完整性問(wèn)題。主要講述了信號(hào)完整性和物理設(shè)計(jì)概論，帶寬、電感和特性阻抗的實(shí)質(zhì)含義，電阻、電容、電感和阻抗的相關(guān)分析，解決信號(hào)完整性問(wèn)題的四個(gè)實(shí)用技術(shù)手段，物理互連設(shè)計(jì)對(duì)信號(hào)完整性的影響，數(shù)學(xué)推導(dǎo)背后隱藏的解決方案，以及改進(jìn)信號(hào)完整性推薦的設(shè)計(jì)準(zhǔn)則等。該書(shū)與其他大多數(shù)同類書(shū)籍相比更強(qiáng)調(diào)直觀理解、實(shí)用工具和工程實(shí)踐。它以入門(mén)式的切入方式，使得讀者很容易認(rèn)識(shí)到物理互連影響電氣性能的實(shí)質(zhì)，從而可以盡快掌握信號(hào)完整性設(shè)計(jì)技術(shù)。本書(shū)作者以實(shí)踐專家的視角提出了造成信號(hào)完整性問(wèn)題的根源，特別給出了在設(shè)計(jì)前期階段的問(wèn)題解決方案。這是面向電子工業(yè)界的設(shè)計(jì)工程師和產(chǎn)品負(fù)責(zé)人的一本具有實(shí)用價(jià)值的參考書(shū)，其目的在于幫助他們?cè)谛盘?hào)完整性問(wèn)題出現(xiàn)之前能提前發(fā)現(xiàn)并及早加以解決，同時(shí)也可作為相關(guān)專業(yè)本科生及研究生的教學(xué)指導(dǎo)用書(shū)。[url= https://pan.baidu.com/s/1i5MQEIL] 密碼: qwk8[/url] |
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