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本帖最后由 edadoc 于 2014-10-17 16:43 編輯
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2. PCB板材對(duì)高速信號(hào)電氣性能影響
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( q: Q6 j1 u+ }5 F0 P" O 眾所周知,高速信號(hào)關(guān)注傳輸線損耗、阻抗及時(shí)延一致性,最后在接收端能接收到合適的波形及眼圖,只要滿足了上面幾點(diǎn)要求,那么高速信號(hào)的問題就可以迎刃而解了。
1 F# \& m5 s7 P% O% T 傳輸線損耗通常分為介質(zhì)損耗、導(dǎo)體損耗和輻射損耗,介質(zhì)損耗主要是由玻纖和樹脂帶來的,而導(dǎo)體損耗主要是由趨膚效應(yīng)和表面粗糙度影響的,如下圖7所示。
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圖7
+ r2 I; }# |$ S- \ 下圖8所示是我們通過微觀切片所看到的PCB的截面結(jié)構(gòu),從圖中可以看到信號(hào)線的表面是非常粗糙的(人為增加粘結(jié)性),以及構(gòu)成PP的玻纖和樹脂(玻纖和樹脂的Dk/Df特性不一致),這些因素都會(huì)影響我們的高速信號(hào)電氣性能。7 M5 A& |' S) Q' U
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圖8
& y% j$ h) ?, q( s; O2.1 Dk&Df的影響
; y2 \: ^2 ~ N+ }! K# p1 D( Z Dk&Df在上面部分已經(jīng)介紹過,介質(zhì)損耗與Dk&Df有直接關(guān)系。下圖9所示為幾種材料在20GHz內(nèi)每inch對(duì)應(yīng)的損耗曲線,其中藍(lán)色曲線為總體損耗,綠色曲線為介質(zhì)損耗,紅色曲線為導(dǎo)體(銅箔)損耗。
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圖9 0 v* D- E. {0 Q& T% D0 T' T
從上面圖9可以看到由于導(dǎo)體是一樣的,不同材料的導(dǎo)體損耗是相同的(紅色曲線),但隨著材料的損耗級(jí)別越低,介質(zhì)損耗越小,介質(zhì)損耗與總體損耗的占比也越小,在超低損耗材料的損耗曲線中,介質(zhì)損耗甚至比導(dǎo)體損耗還小。 O& }! U* O8 j
如下圖10和圖11為幾種常見材料的Dk/Df隨頻率和溫度變化的曲線,為公正起見,沒有將具體材料的型號(hào)列出,只有不同的材料代號(hào)。4 T! @; y/ H& ` E( z( [6 K
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圖10 # k1 g, n& w T9 V2 k8 t) G3 R
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圖11 ! _. G7 ~) u p; e2 }
一般來說,我們要求Dk/Df越穩(wěn)定越好,也就是說Dk/Df不隨頻率及溫濕度(環(huán)境)變化影響太大,反應(yīng)在圖形上面即是圖形的斜率越小越好,如果是水平的曲線那就是完美了。
/ K) p( f3 \" Z4 ~' T3 B' n 根據(jù)時(shí)延公式1可以知道,Dk越小傳播時(shí)延也越。▊鞑ニ俣瓤,需要的時(shí)間就。,同時(shí)Dk的變化率越小阻抗也越穩(wěn)定,有利于阻抗的控制(公式2)。而從損耗公式(公式3)我們也可以知道Dk/Df越小(穩(wěn)定),損耗也越。ǚ(wěn)定),穩(wěn)定的材料參數(shù)可以在工程應(yīng)用上更好的控制產(chǎn)品的性能。8 R7 A8 G; P( |$ |2 @* d- E$ l8 W
如下圖12所示為同樣的12inch線長,使用上面不同損耗級(jí)別的材料所測得的損耗曲線,可知當(dāng)在10GHz的時(shí)候,普通FR4(普通損耗級(jí)別)的損耗為-15dB,而如果使用TU(低損耗級(jí)別)的損耗僅-7.5dB,如果此時(shí)有個(gè)高速信號(hào)要求插損在10GHz的時(shí)候需要小于-12dB,那么使用普通FR4的材料就不能滿足要求,必須使用損耗級(jí)別更低的材料。; N" |0 n/ S; {' Z3 `
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圖12
0 k. { A; s0 ]7 |- G+ a2.2 銅箔表面粗糙度的影響+ I8 ~7 l* h* ^) H
如上圖8所示的微觀切片所示,銅箔的表面是比較粗糙的,而我們在設(shè)計(jì)或者仿真的時(shí)候通常是以光滑的表面為模型,如下圖13所示。
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圖13 . o; X/ U: |: c& ]
理想和現(xiàn)實(shí)是有差距的,這就是為什么我們經(jīng)常認(rèn)為自己的設(shè)計(jì)或者仿真結(jié)果是沒有問題,但實(shí)際產(chǎn)品卻有各種各樣的問題,其中必然有很多細(xì)節(jié)是我們在設(shè)計(jì)或仿真時(shí)忽略掉了。
. f- z3 s1 h) O: V 下圖14是幾種常規(guī)的銅箔對(duì)表面粗糙度的定義,其中有STD(標(biāo)準(zhǔn)銅箔)、RTF(反轉(zhuǎn)銅箔)和VLP/HVLP(低/超低表面粗糙度銅箔),可見不同的銅箔銅牙(粗糙度)相差明顯。! M4 P3 z1 T( F: b+ K- y
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圖14 ; `" K. i# E7 ~
如下圖15所示為普通銅箔與低表面粗糙度銅箔的切片放大圖。
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+ P2 X, T- Y6 `# z, Y9 o圖15
2 _6 _ S. M9 K: E! N$ d+ W 從圖中可以直接看出銅箔粗糙度(銅牙)使線路的寬度、線間距不均勻,從而影響阻抗的不可控,最后導(dǎo)致一系列的高速信號(hào)完整性問題,而低表面粗糙度的銅箔就不會(huì)導(dǎo)致類似問題。如下圖16是對(duì)同樣的材料不同的銅箔進(jìn)行的仿真比較。* Y( I# O3 a; i" ~
$ }) @; X7 Y" H E; V* f# ^圖16 ; a* @3 m% c; l7 M- _5 f8 U
從仿真結(jié)果可以看出在5GHz以下銅箔的影響不是太明顯,但在5GHz以上銅箔的影響開始越來越大,所以我們在高速信號(hào)(尤其>10G)的設(shè)計(jì)和仿真中需要注意銅箔的影響。
6 P$ {) O9 ]: r/ H( L5 o2.3 玻纖布的影響7 f, y9 j* O% v$ `8 O
目前主流的材料都是采用的“E-glass”,參照的IPC-4412A規(guī)范,本文也是主要針對(duì)的E-glass的玻纖介紹。常見玻纖的微觀放大如下圖17所示。; j# u" K: K' I! ~" R: f% R
; ?# B. v6 r/ j8 A P2 q3 L5 `0 s圖17 6 ^2 a" @: l5 E! ?) Z
從上圖17可知不同的玻纖對(duì)應(yīng)的編織粗細(xì)不一樣,開窗和交織的厚度也不一樣,如果信號(hào)分別布在開窗上和玻纖上所表現(xiàn)的特性(阻抗、時(shí)延、損耗)也不一樣(開窗和玻纖Dk/Df特性不一樣導(dǎo)致的),這就是玻纖效應(yīng)。玻纖效應(yīng)的影響主要表現(xiàn)在如下幾種方式。
6 \: N6 R) [! l4 H& y ^4 d" ?+ ua、玻纖效應(yīng)對(duì)阻抗的影響
# F$ a* J N+ |' Y 如下圖18為同一疊層對(duì)應(yīng)不同玻纖的阻抗測試結(jié)果,同樣的3.5mil線寬,采用1080和3313的玻纖布,可知因?yàn)?080的開窗比較大,所測試的TDR阻抗曲線跳變比較大,阻抗不匹配比較嚴(yán)重。而采用3313玻纖的阻抗曲線比較平整,阻抗比較均勻。) |- T2 q; e5 C. u) S5 o3 ]% U
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圖18
$ U. Y- O6 m" p- D& nb、玻纖效應(yīng)對(duì)時(shí)延的影響
2 x* w1 O$ @5 _2 p! N; M( B* c; K 如下圖19為一對(duì)差分信號(hào)在玻纖上的分布示意圖,左下部分表示的是沒有玻纖效應(yīng)的影響,差分信號(hào)和共模信號(hào)完美,而右下角為有玻纖效應(yīng)的影響,由于差分信號(hào)上的一根在玻纖上,另一根在開窗上,時(shí)延不一致造成了不同時(shí)到達(dá),最終影響了差分信號(hào)和共模信號(hào)的正常接收。
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圖19
4 t1 C7 N+ P9 a# C& Jc、玻纖效應(yīng)對(duì)損耗的影響
6 K' B1 X' e# N4 @! u8 _# K) s! W" A/ t) N 如下圖20為不同損耗級(jí)別下的材料對(duì)應(yīng)不同玻纖的損耗曲線。右邊圖示可知不管是中損耗的材料還是低損耗的材料,采用普通的玻纖(紅色)比采用平織布玻纖(藍(lán)色)的損耗都要大。2 c) K# K9 _* r3 S
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圖20 5 b& {$ b0 X# T4 h/ J0 i
綜上我們在高速信號(hào)的設(shè)計(jì)上應(yīng)該盡量避免玻纖效應(yīng)的影響,常用的方法是采用一定角度走線或者在制板的時(shí)候讓廠家旋轉(zhuǎn)一定的角度(板材的利用率會(huì)有一定的下降);或者直接采用開窗比較小的開纖布或者平織布,此外用2層PP也可以適當(dāng)?shù)谋苊獠@w效應(yīng)。
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