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本帖最后由 edadoc 于 2014-10-17 16:43 編輯
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2. PCB板材對高速信號電氣性能影響5 s- z! E1 `; e* i8 i
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眾所周知,高速信號關(guān)注傳輸線損耗、阻抗及時延一致性,最后在接收端能接收到合適的波形及眼圖,只要滿足了上面幾點(diǎn)要求,那么高速信號的問題就可以迎刃而解了。
9 a+ ~; Q7 p0 [$ C' O6 I6 ?5 ` 傳輸線損耗通常分為介質(zhì)損耗、導(dǎo)體損耗和輻射損耗,介質(zhì)損耗主要是由玻纖和樹脂帶來的,而導(dǎo)體損耗主要是由趨膚效應(yīng)和表面粗糙度影響的,如下圖7所示。
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: o6 Y! l8 j( M圖7
$ [1 \, j7 S- T0 P+ U: Q3 v ~, @ 下圖8所示是我們通過微觀切片所看到的PCB的截面結(jié)構(gòu),從圖中可以看到信號線的表面是非常粗糙的(人為增加粘結(jié)性),以及構(gòu)成PP的玻纖和樹脂(玻纖和樹脂的Dk/Df特性不一致),這些因素都會影響我們的高速信號電氣性能。
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圖8
/ R, s5 C5 N2 Y! P& A2.1 Dk&Df的影響
% [9 g0 d1 Z" M4 C- x0 V5 ?3 L# p Dk&Df在上面部分已經(jīng)介紹過,介質(zhì)損耗與Dk&Df有直接關(guān)系。下圖9所示為幾種材料在20GHz內(nèi)每inch對應(yīng)的損耗曲線,其中藍(lán)色曲線為總體損耗,綠色曲線為介質(zhì)損耗,紅色曲線為導(dǎo)體(銅箔)損耗。1 {0 x" h a" f, v0 C" H8 C
" P$ A- s' O6 g圖9
% x% f- `) K7 M* P 從上面圖9可以看到由于導(dǎo)體是一樣的,不同材料的導(dǎo)體損耗是相同的(紅色曲線),但隨著材料的損耗級別越低,介質(zhì)損耗越小,介質(zhì)損耗與總體損耗的占比也越小,在超低損耗材料的損耗曲線中,介質(zhì)損耗甚至比導(dǎo)體損耗還小。, b$ x5 ? X* k; \& h5 d
如下圖10和圖11為幾種常見材料的Dk/Df隨頻率和溫度變化的曲線,為公正起見,沒有將具體材料的型號列出,只有不同的材料代號。
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圖10 8 v. o9 |; U5 N3 _% a# R
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圖11
6 ]* V9 k% o9 t/ y1 R 一般來說,我們要求Dk/Df越穩(wěn)定越好,也就是說Dk/Df不隨頻率及溫濕度(環(huán)境)變化影響太大,反應(yīng)在圖形上面即是圖形的斜率越小越好,如果是水平的曲線那就是完美了。/ L4 t/ O2 k3 x" C0 z
根據(jù)時延公式1可以知道,Dk越小傳播時延也越。▊鞑ニ俣瓤欤枰臅r間就。,同時Dk的變化率越小阻抗也越穩(wěn)定,有利于阻抗的控制(公式2)。而從損耗公式(公式3)我們也可以知道Dk/Df越。ǚ(wěn)定),損耗也越。ǚ(wěn)定),穩(wěn)定的材料參數(shù)可以在工程應(yīng)用上更好的控制產(chǎn)品的性能。
# F! F. t3 E1 F& n. T: k$ e! e* G$ i如下圖12所示為同樣的12inch線長,使用上面不同損耗級別的材料所測得的損耗曲線,可知當(dāng)在10GHz的時候,普通FR4(普通損耗級別)的損耗為-15dB,而如果使用TU(低損耗級別)的損耗僅-7.5dB,如果此時有個高速信號要求插損在10GHz的時候需要小于-12dB,那么使用普通FR4的材料就不能滿足要求,必須使用損耗級別更低的材料。" T) s& ~! `. l5 M [' n& n$ i; C
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圖12 % Y8 C1 O' U3 k" A# I! n- X
2.2 銅箔表面粗糙度的影響" v5 `1 c- d( p& _
如上圖8所示的微觀切片所示,銅箔的表面是比較粗糙的,而我們在設(shè)計(jì)或者仿真的時候通常是以光滑的表面為模型,如下圖13所示。. D' B! K8 A. a |: G* W
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圖13 7 J3 r* I3 w9 P+ V
理想和現(xiàn)實(shí)是有差距的,這就是為什么我們經(jīng)常認(rèn)為自己的設(shè)計(jì)或者仿真結(jié)果是沒有問題,但實(shí)際產(chǎn)品卻有各種各樣的問題,其中必然有很多細(xì)節(jié)是我們在設(shè)計(jì)或仿真時忽略掉了。# e( I a3 F5 j1 f6 h" \
下圖14是幾種常規(guī)的銅箔對表面粗糙度的定義,其中有STD(標(biāo)準(zhǔn)銅箔)、RTF(反轉(zhuǎn)銅箔)和VLP/HVLP(低/超低表面粗糙度銅箔),可見不同的銅箔銅牙(粗糙度)相差明顯。
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圖14 7 |4 L: G+ N% A7 z; z7 ]
如下圖15所示為普通銅箔與低表面粗糙度銅箔的切片放大圖。
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3 x2 ^! Y4 Q8 O- D5 ~圖15 b# b3 y4 W, i" \+ k
從圖中可以直接看出銅箔粗糙度(銅牙)使線路的寬度、線間距不均勻,從而影響阻抗的不可控,最后導(dǎo)致一系列的高速信號完整性問題,而低表面粗糙度的銅箔就不會導(dǎo)致類似問題。如下圖16是對同樣的材料不同的銅箔進(jìn)行的仿真比較。& \& X6 ^( }3 Y( K
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圖16
! a* L* ~ G5 E 從仿真結(jié)果可以看出在5GHz以下銅箔的影響不是太明顯,但在5GHz以上銅箔的影響開始越來越大,所以我們在高速信號(尤其>10G)的設(shè)計(jì)和仿真中需要注意銅箔的影響。$ D$ O7 h' ~1 T$ F
2.3 玻纖布的影響
9 U, s' R/ U5 ]" \3 Q% Z3 h. p 目前主流的材料都是采用的“E-glass”,參照的IPC-4412A規(guī)范,本文也是主要針對的E-glass的玻纖介紹。常見玻纖的微觀放大如下圖17所示。- \5 q" }8 ^+ r0 M3 |" y( N
& A) Z( H' x6 |! z( z圖17
& d, Q+ ?2 R7 ?3 R1 ?2 v! c; W$ ^6 f 從上圖17可知不同的玻纖對應(yīng)的編織粗細(xì)不一樣,開窗和交織的厚度也不一樣,如果信號分別布在開窗上和玻纖上所表現(xiàn)的特性(阻抗、時延、損耗)也不一樣(開窗和玻纖Dk/Df特性不一樣導(dǎo)致的),這就是玻纖效應(yīng)。玻纖效應(yīng)的影響主要表現(xiàn)在如下幾種方式。% h! n& ? E8 T' }/ l
a、玻纖效應(yīng)對阻抗的影響( c& w: k7 n! g9 m6 o
如下圖18為同一疊層對應(yīng)不同玻纖的阻抗測試結(jié)果,同樣的3.5mil線寬,采用1080和3313的玻纖布,可知因?yàn)?080的開窗比較大,所測試的TDR阻抗曲線跳變比較大,阻抗不匹配比較嚴(yán)重。而采用3313玻纖的阻抗曲線比較平整,阻抗比較均勻。
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圖18 0 M7 I/ W2 l3 ?
b、玻纖效應(yīng)對時延的影響
1 F6 s9 U8 U6 D6 k/ `- F 如下圖19為一對差分信號在玻纖上的分布示意圖,左下部分表示的是沒有玻纖效應(yīng)的影響,差分信號和共模信號完美,而右下角為有玻纖效應(yīng)的影響,由于差分信號上的一根在玻纖上,另一根在開窗上,時延不一致造成了不同時到達(dá),最終影響了差分信號和共模信號的正常接收。3 Z/ \: ~4 w& U. C# y% Z
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圖19
$ L" d' ^, M0 z9 G( O" L- J! s6 D/ l+ Ec、玻纖效應(yīng)對損耗的影響
& c9 T' V% A6 g. F+ h" e! e# L8 G1 f 如下圖20為不同損耗級別下的材料對應(yīng)不同玻纖的損耗曲線。右邊圖示可知不管是中損耗的材料還是低損耗的材料,采用普通的玻纖(紅色)比采用平織布玻纖(藍(lán)色)的損耗都要大。
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圖20 + X$ d+ D ^9 x
綜上我們在高速信號的設(shè)計(jì)上應(yīng)該盡量避免玻纖效應(yīng)的影響,常用的方法是采用一定角度走線或者在制板的時候讓廠家旋轉(zhuǎn)一定的角度(板材的利用率會有一定的下降);或者直接采用開窗比較小的開纖布或者平織布,此外用2層PP也可以適當(dāng)?shù)谋苊獠@w效應(yīng)。" l1 v/ m* G6 G f( n
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