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本文要點
電源分配網(wǎng)絡(luò) (PDN) 中的瞬態(tài)電流會對電源軌產(chǎn)生兩種影響:接地反彈和軌道塌陷。軌道塌陷和接地反彈是兩種瞬態(tài)效應(yīng),它們對電源完整性具有相同的影響,但產(chǎn)生的方式彼此不同。通過使用場求解器,設(shè)計人員可以根據(jù)控制 PDN 瞬態(tài)電流的 Z 參數(shù)和寄生效應(yīng)提取 PDN 阻抗。
每當電路或系統(tǒng)狀態(tài)改變時,就會出現(xiàn)瞬態(tài)響應(yīng),此時系統(tǒng)會進入一種新的穩(wěn)定狀態(tài)。有時,系統(tǒng)中的瞬態(tài)響應(yīng)非常快并且流暢,以至于無法察覺。在其他情況下,瞬態(tài)響應(yīng)表現(xiàn)為信號電平出現(xiàn)大幅波動,這種過渡期間的信號是無法識別的。高速 PCB 設(shè)計的一個主要目標是防止不必要的瞬態(tài)行為對器件造成影響,以及完全消除瞬態(tài)行為。
雖然 PCB 中的直流 PDN 只應(yīng)輸出直流電,但當器件切換狀態(tài)時,它也會表現(xiàn)出瞬態(tài)響應(yīng),而瞬態(tài)響應(yīng)會影響連接到 PDN 的所有其他器件的功能。設(shè)計人員應(yīng)了解 PDN 可能出現(xiàn)的瞬態(tài)電流變化,以便找到維持 PCB 電源穩(wěn)定輸出的方法。事實證明,設(shè)計人員可以通過一些簡單的設(shè)計選擇來確保穩(wěn)定的電源傳輸。
PDN 瞬態(tài)電流的變化對于了解高速 PCB 的信號完整性非常重要。
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兩種類型的 PCB 瞬態(tài)電流
如今的 PCB 使用的是 CMOS 數(shù)字器件,當邏輯緩沖器切換狀態(tài)時,可能會出現(xiàn)兩種類型的瞬態(tài)電流行為;镜 CMOS 反相器排列方式是使用兩個 MOSFET 連接到一個輸入端,單個 CMOS 反相器會根據(jù)從關(guān)斷到接通或從接通到關(guān)斷的切換情況,表現(xiàn)出兩種類型的瞬態(tài)響應(yīng)。具體如下:
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接地反彈
這是電流進入 PDN 時最常見的瞬態(tài)電壓效應(yīng)。發(fā)生這種情況時,接地參考平面上會出現(xiàn)電壓上升,而 PDN 上的正電壓軌則保持不變。
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軌道塌陷
這種現(xiàn)象被稱為 PDN 紋波或電源軌紋波,不要將其與整流交流信號輸出端的紋波混淆。當瞬態(tài)電流在 PDN 上傳播時,PDN 的阻抗會在正電壓軌上產(chǎn)生電壓波動。
在這兩種情況下,都會導(dǎo)致在正電壓軌和負 (GND) 電壓軌之間測量到的電壓出現(xiàn)波動。只需測量設(shè)備中電源和接地平面之間的電壓(例如使用示波器),就會發(fā)現(xiàn)連接到 PDN 的器件出現(xiàn)電壓波動。在接地引線或電源引線處可能測量到的基本瞬態(tài)效應(yīng)如下所示。
PDN 瞬態(tài)電流變化導(dǎo)致接地反彈和軌道塌陷。
當集成電路中的邏輯電路切換狀態(tài)時,上述兩種效應(yīng)都取決于 PDN 瞬態(tài)電流的變化。在實際的集成電路中,會有許多邏輯電路同時切換,從而產(chǎn)生接地反彈和軌道塌陷的復(fù)雜組合。總體而言,這兩種效應(yīng)結(jié)合在一起會產(chǎn)生復(fù)雜波形,可以在電源軌上測量到。這兩種效應(yīng)的區(qū)別在于電流的流向和電流路徑中存在的寄生元素。
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軌道塌陷過程
當正電壓供電軌上的瞬態(tài)電流進入 PDN 時,就會發(fā)生軌道塌陷。可以將 PDN 建模成一個 RLC 網(wǎng)絡(luò),與任何具有一定電抗的系統(tǒng)一樣,它可以表現(xiàn)出類似于阻尼振蕩的瞬態(tài)響應(yīng)。這種效應(yīng)的整個過程如下:
CMOS 反相器接通并向下游邏輯電路或負載器件供電。在開關(guān)過程中,該器件會使尖峰電流輸入電源軌。電流尖峰是一個寬帶信號,與整個 PDN 中的寄生效應(yīng)發(fā)生相互作用。電流尖峰通過 PDN 阻抗轉(zhuǎn)化為電壓尖峰,然后以阻尼振蕩的形式放緩。
[/ol]在步驟 4 中我們可以發(fā)現(xiàn),較高的 PDN 阻抗會導(dǎo)致電源總線上的電壓波動過大。此時的解決方案是盡可能降低 PDN 阻抗。為此,需要巧妙地選擇去耦電容,并放置相鄰的電源/接地平面,以確保較高的平面間電容。
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接地反彈過程
當 CMOS 反相器關(guān)斷,走線/參考平面電容放電時,就會發(fā)生接地反彈。與電流流經(jīng) PDN 正極的情況一樣,流經(jīng)集成電路接地端口的電流也會出現(xiàn)各種寄生效應(yīng),這些寄生效應(yīng)也會產(chǎn)生無功阻抗。接地反彈產(chǎn)生電壓尖峰的過程如下:
CMOS 反相器的低電壓端接通,存儲在走線/參考平面電容中的電流放電。該電流流經(jīng)集成電路的接地平面,進入集成電路芯片上的連接線。電流從連接線流過集成電路封裝上的引腳,再通過一個過孔回到接地平面。沿 PDN 出現(xiàn)的電壓尖峰是由于流向接地的電流路徑上的總電感產(chǎn)生了反向電磁場。然后,該電壓尖峰作為阻尼振蕩降至零。
[/ol]
通過 CMOS 反相器的 PDN 瞬態(tài)電流路徑。
此時,接地反彈主要是由接地引線中的電感造成的。當集成電路反復(fù)開關(guān)時,多個接地反彈尖峰結(jié)合在一起,產(chǎn)生能在電源軌上測量到的復(fù)雜強迫振蕩(見下圖)。
由于傳輸?shù)?CMOS 反相器的驅(qū)動信號的上升時間非?欤蚨梢詼y量到電源軌響應(yīng)(藍色走線)。
為了減少接地反彈,通常的解決方案是在正負電壓軌之間安裝一個并聯(lián)電容器,以減小流動電流的阻抗。該電容是旁路電容;它可降低由接地引線和 CMOS 反相器低電壓端的電容所形成的等效 LC 網(wǎng)絡(luò)的阻抗。此外還可以遵循其他的 PCB layout 設(shè)計指南來減少接地反彈。
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使用場求解器對電壓紋波和
瞬態(tài)電流進行建模
在上述兩種情況下,有一點需要注意,PDN 實際上是一個多端口網(wǎng)絡(luò)。電源軌上的電壓不僅會影響開關(guān)器件的直流電源,它還會導(dǎo)致 PDN 上所有器件的直流電源產(chǎn)生一些波動。在仿真中,不同端口的阻抗之間的這種關(guān)系通過 Z 參數(shù)或阻抗參數(shù)進行量化。該參數(shù)矩陣定義了 PDN 中某個端口的電壓波動與 PDN 中所有端口的電流之間的對應(yīng)關(guān)系。
利用高級 PCB 設(shè)計工具中的 3D 電磁場求解器,可以提取這些網(wǎng)絡(luò)參數(shù)。如果需要快速提取 Z 參數(shù),最好使用與您的 layout 工具集成的仿真套件;這樣無需在另外的仿真工具中重新為 PCB 創(chuàng)建新模型,即可輕松查看 PDN 的哪個部分具有高阻抗。
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原文由Cadence楷登PCB及封裝資源中心整理撰寫。
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