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MOS管是FET的一種，可制造成增強型或耗盡型，有P型或N型，無論是那種，其工作原理本質(zhì)都是一樣的。MOS管種類和作用眾多，在電源的使用中主要用到其開關作用。
MOS管常加在輸入端柵極的電壓來控制輸出端漏極的電流，通過加在柵極上的電壓控制器件的特性，不會發(fā)生像三極管做開關時的因基極電流引起的電荷存儲效應。在開關電源中常用MOS管的漏極開路電路，漏極原封不動地接負載，叫開路漏極。開路漏極電路中不管負載接多高的電壓，都能夠接通和關斷負載電流，是理想的模擬開關器件。
MOS管的工作狀態(tài)可分為開通過程、導通狀態(tài)、關斷過程和截止狀態(tài)。損耗可分為開關損耗、導通損耗、截止損耗和雪崩能量損耗。常見的損壞原因有過流、過壓和靜電等。
主要的引起發(fā)熱因素有四種：
1、電路設計問題。如MOS管工作在線性的工作狀態(tài)，而不是在開關狀態(tài)。如果NMOS做開關，其G級電壓要比電源高幾V才能完全導通，而P-MOS則相反。沒有完全打開而壓降過大造成功率消耗，等效直流阻抗比較大，壓降增大，所以U*I也增大，損耗就意味著發(fā)熱。
2、使用頻率太高。如過分追求體積，導致頻率提高，MOS管上的損耗增大，發(fā)熱也加大了。
3、沒有做好足夠的散熱設計，電流太高，MOS管標稱的電流值，一般需要良好的散熱才能達到。所以ID小于最大電流，也有可能發(fā)熱嚴重，因此需要足夠的輔助散熱片。
4、MOS管的選型不對。如對功率判斷有誤，MOS管內(nèi)阻沒有充分考慮，導致開關阻抗增大。
上面講了MOS管發(fā)熱及損壞原因，下面講下造成開關電源開關管損壞的原因主要有：
1、電源輸入的交流電壓過高或過低造成；
2、軟啟動電路的失效造成；
3、開關管集成電路板反峰吸收電路失效造成；4、穩(wěn)壓電路中去耦電容失效造成；5、穩(wěn)壓電路的負反饋開環(huán)；
6、正反饋過強造成；
7、整流二極管損壞造成；
8、開關電源變壓器損壞造成；
9、開關電源整流橋損壞造成；
10、開關管發(fā)射極限流電阻過小造成；
11、開關管性能不良或功率過小造成；
12、開關管與散熱片之間的絕緣不良造成。
MOS管STD85N3LH5 ww.dzsc.com/ic-detail/9_2591.html的參數(shù)
FET 類型：N 溝道
技術：MOSFET（金屬氧化物）
漏源電壓（Vdss）：30V
電流 - 連續(xù)漏極（Id）（25°C 時）：80A（Tc）驅(qū)動電壓（最大 Rds On，最小 Rds On）：5V，10V不同 Id 時的 Vgs（th）（最大值）：2.5V @ 250?A不同 Vgs 時的柵極電荷 （Qg）（最大值）：14nC @ 5VVgs（最大值）：±22V不同 Vds 時的輸入電容（Ciss）（最大值）：1850pF @ 25V功率耗散（最大值）：70W（Tc）不同 Id，Vgs 時的 Rds On（最大值）：5 毫歐 @ 40A，10V工作溫度：175°C（TJ）安裝類型：表面貼裝供應商器件封裝：D-Pak
封裝/外殼：TO-252-3，DPak（2 引線 + 接片），SC-63
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