PCB設(shè)計中的信號跨分割，有什么壞處？

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​我們PCB中的信號都是阻抗線，是有參考的平面層。但是由于pcb設(shè)計過程中，電源平面的分割或者是地平面的分割，會導(dǎo)致平面的不完整，這樣，信號走線的時候，它的參考平面就會出現(xiàn)從一個電源面跨接到另一個電源面，這種現(xiàn)象我們就叫做信號跨分割。跨分割的現(xiàn)象如圖1-52所示。

跨分割，對于低速信號，可能沒有什么關(guān)系，但是在高速數(shù)字信號系統(tǒng)中，高速信號是以參考平面作為返回路徑，就是回流路徑。當(dāng)參考平面不完整的時候，會出現(xiàn)如下影響：

Ø 會導(dǎo)致走線的的阻抗不連續(xù)；

Ø 容易使信號之間發(fā)生串?dāng)_；

Ø 會引發(fā)信號之間的反射；

Ø 增大電流的環(huán)路面積、加大環(huán)路電感，使輸出的波形容易振蕩；

Ø 增加向空間的輻射干擾，同時容易受到空間磁場的影響；

Ø 加大與板上的其它電路產(chǎn)生磁場耦合的可能性；

Ø 環(huán)路電感上的高頻壓降構(gòu)成共模輻射源，并通過外接電纜產(chǎn)生共模輻射。

圖1-52 跨分割現(xiàn)象示意圖

1.84 什么是ICT測試點，設(shè)計要求有哪些？

答：ICT，In  Circuit  Tester，自動在線測試儀，是印制電路板生產(chǎn)中重要的測試設(shè)備，用于焊接后快速測試元器件的焊接質(zhì)量，迅速定位到焊接不良的引腳，以便及時進行補焊。在PCB設(shè)計中，就需要在設(shè)計中添加用于ICT測試的焊盤。ICT測試可以檢測的內(nèi)容有：線路的開短路、線路不良、元器件的缺件、錯件、元器件的缺陷、焊接不良等，并能夠并能夠明確指出缺點的所在位置。

一般來說,ICT常用的設(shè)計要求如下所示：

Ø ICT測試點焊盤大小直徑為40mil，最小不小于32mil；

Ø 測試點或者固定孔不能被障礙物擋，不能添加在元器件里面；

Ø ICT測試的是信號網(wǎng)絡(luò)，盡可能多地覆蓋網(wǎng)絡(luò)，最好100%的網(wǎng)絡(luò)，嚴格的會對器 件的空管腳也進行ICT測試；

Ø 測試點盡量在同一面，可以減小測試成本；

Ø 可用作測試的點包括：專用的測試焊盤、元器件管腳（常見的是通孔）、過孔；

Ø 測試點的測試焊盤要阻焊開窗；

Ø 測試點中心間距盡量不小于50mil，過近測試難度大，成本高；

Ø 測試點到PCB板邊的距離有一定的要求，推薦為100mil，最少要50mil。